Xrf (Xray)
XRAY ( X IŞINLARI FLORESANS SPEKTROSKOPİ)
X-ışınları Floresans (XRF) spektroskopisi elementel kompozisyonu belirlemede kullanılan önemli yöntemlerden biridir.
X-Işınları Floresans Spektrometresi ile;
- Si, Al, Ti, Mn, Mg … gibi ana element oksitleri yüzde (%) ağırlık cinsinden (MnO, MgO …)
- Rb, Ba, Sr … gibi eser elementleri,
- Cr, Ni, Co, Cu ve Zn gibi geçiş elementlerini,
- La, Ce, Pr, Nd … gibi nadir toprak elementlerinin ppm düzeyinde analiz edilebilir.
Atom numarası 9 ile 92 arasında olan elementlerin kantitatif analizini yapar. Atom numarası 9’un altında olan elementleri inceleyemez. Kimyasal bağ derecesinde yeterince hassas değildir. XRF genelde 50kV ve 50mA’da çalışır.
Bünyemizde XRAY;
- Alaşım kaplamalardaki alaşım oranları tayin etmede,
- Kaplama türü bilinmeyen örnek numunelerde kaplama türünü belirlemede,
- Metal kaplama banyolarında metal bileşiklerinin kantitatif analizinde kullanılmaktadır.